GC/MS 提供哪些資訊？

我們的儀器可以在兩種不同的模式下執行，即全掃描和選擇離子監測(SIM)模式。 全掃描模式提供了相當地可重現的質譜碎片譜（“指紋”）。質譜在 GC 分離過程中以固定間隔（通常每秒 0.5 - 1 次）被記錄（掃描），並被儲存在儀器資料系統中，用於隨後的定性或定量評估。從這些譜中，通常可以推斷出結構特徵（質譜解析），但這需要經驗並且可能非常耗時，特別是當一個複雜的混合物可能包含數百種成分時。這種“指紋”也可以與儲存在標準資料庫（質譜庫）中的資料進行比較，並且我們目前有多個重要的資料庫可以幫助解決問題。儘管庫搜尋是一種非常有用且省時的技術，但重要的是要記住這樣的搜尋不識別化合物而是分析員識別化合物! 定量工作可以透過整合選定的離子色譜峰來進行。SIM 是一種更為靈敏的痕量定量分析技術。該技術不是掃描整個光譜，而是在 GC 分離期間僅檢測少數離子。這可以使靈敏度增加多達 500 倍，但會犧牲特異性。可以使用穩定同位素標記的內標。




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